低温真空探针台测试系统 - 上海芯春电子科技有限公司

探针台系统A

探针台系统A

低温真空探针台测试系统

CLTPS 真空低温探针台产品特点：

可使用液氮或液氦制冷，基本系统温度范围：5 K to 475 K
加入高温选件，温度范围可到20K-675K
可测量DC小信号，射频信号，RF最大频率可测到67GHz
最大测试样品尺寸50mm直径
最多可使用6个探针臂
探针臂传上安装温度感器进行温度监测
控温稳定性：±50mK
探针臂3轴方向可调节，并可进行面内±5°旋转
电缆、屏蔽和Guard保护进一步减少了电噪声和热辐射损失
可提供不同的选件和附件来满足特定的科研测试需要

分类：

系统集成方案系统集成产品分类-2

货号：

CLTPS 低温真空探针台测试系统

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